PD动态测试系统 - 柯泰光芯测试技术 vcsel测试解决方案

09-07

2026

产品推介 | VMP6000 IV/CV 测试系统，为PD晶圆量产守住电学关口

每一颗PD从晶圆走向光模块前，都必须闯过IV/CV电学测试这一关。面对高速PD日趋严苛的暗电流、结电容、击穿电压要求，传统测试方案在精度与效率上的短板被持续放大——测不准、测不快、测不全，已成为制约产线产能的重要因素。VMP6000 晶圆级半导体参数测试系统，正是面向PD的IV/CV电学测试而设计。该测试系统已实现标准化量产，在多家头部厂商已完成批量部署与验证，性能稳定，交付即用。